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世紀朝陽攜手Picarro、Brookhaven登陸BCEIA 2019

2019-10-24 17:58:40

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關于BCEIA關于BCEIA

BCEIA作為中國分析測試領域專業化程度最高的國際性盛會,具有廣泛的國際影響力,自1985年創辦以來作為國際新技術、新儀器、新設備的展示窗口受到國內外眾多專家、學者、科技人員的持續關注;在促進國際間科學技術交流、推動分析測試科學和儀器制造技術發展中起到了重要作用。


世紀朝陽與BCEIA

 

“第十八屆北京分析測試學報告會暨展覽會”于2019年10月23日-26日在北京國家會議中心召開,世紀朝陽攜手Brookhaven及PICARRO參加展會。


onmi BECIA 展會圖

 

Brookhaven作為參展儀器,有OMNI、90PlusPALS、BI-200SM、廣角靜態光散射系統、EyeTech等,攜帶展會的樣機有OMNI(多角度納米粒度及Zeta電位分析儀)、EyeTech(激光粒度儀)。

 

onmi BECIA 展會圖1

 

PICARRO的產品是基于我們擁有專利的光腔衰蕩光譜學(CRDS)技術,能以ppb的精度來測量氣體的濃度及同位素比值。該技術利用光譜學的原理來定量測量氣態分子的濃度(有時候是同位素)。CRDS技術是通過光信號的衰減率來測得濃度,這使得信噪比得以提高。


Picrro BECIA 展會圖2


世紀朝陽歡迎您的蒞臨

 

世紀朝陽攜手Brookhaven及PICARRO在北京國家會議中心“BCEIA2019”展位號:12081等待您的蒞臨!

 



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